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更新時間:2025-05-08
動態體能評估系統t280s是一款集動態體能評估、體適能評估、運動數據統計、運動健康分析、智能訓練指導為一體的評估系統。系統通過穿戴式傳感器進行動作數據采集，對8個或以上特定動作的動態測試，采集身體運動參數，遠程無線數據傳輸，與交互平臺配合分析人體的重心運動軌跡及人體的運動姿態，自動進行分析并生成測試報告和出具訓練建議。
更新時間:2025-05-08
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊 同時具備足底壓力分析、體態評估和足墊定制三大功能。系統采用的是的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態進行分析與評估，根據分析數據，了解用戶的足部現狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時，系統采用的加熱定型技術，該技術在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現場直接穿戴。
更新時間:2025-05-08
foncti-630體態評估系統，是一款集合3d體態檢測，步態檢測于一體的智能體測系統。系統采用沿的遠紅外與結構光技術，模擬人體骨骼位置結構，分析肌肉功能狀態，診斷動態步態異常，預測各項健康風險，給予客戶健康評分并為客戶定制完整運動方案。
更新時間:2025-05-08
carebo-810采用國際先進的多頻率生物電阻抗技術進行人體成分準確分析，監測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數據本身，呈現身體的真實數據，通過獨有的準確測量技術和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務項目。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
鞋墊機器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設備 c1同時具備足底壓力分析、體態評估和足墊定制三大功能。系統采用的是國際的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態進行分析與評估，根據分析數據，了解用戶的足部現狀，并作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-05-08
carebo-810采用國際先進的多頻率生物電阻抗技術進行人體成分準確分析，監測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數據本身，呈現身體的真實數據，通過獨有的準確測量技術和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務項目。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
全自動鞋墊機s1足墊定制系統同時具備足底壓力分析、體態評估和足墊定制三大功能。系統采用的是高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態進行分析與評估，作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-05-08
boonfeet s1足墊定制系統同時具備足底壓力分析、體態評估和足墊定制三大功能。系統采用的是國際的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態進行分析與評估，根據分析數據，了解用戶的足部現狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時，系統采用獨特的加熱定型技術，該技術在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現場5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現場直接穿戴。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。可適用于疼痛科、康復科、神經內科、足踝外科、骨科等科室，廣泛應用于體檢康復、運動康復、教學科研等域。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
●僅厚3mm、gai+view 超薄的測試板！●足底壓力的大小與分布能反映人體腿，足結構。功能及整個身體姿勢控制等信息，測試。分析足底應力，對臨床診斷。疾患程度測定和術后療效評價均具有重要意義。●gaitview特點●很高的便攜性僅有3mm厚度，是很薄的足壓測試儀，同時其尺寸僅為50*70cm,重量僅為4.8kg,具有很高的便攜性。
更新時間:2025-05-08
便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動安全、方便02人體工程學設計03.超輕型,約10kg04.a4打印機或熱敏打印（選配）05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會操作07.語音向導功能08.u盤數據備份
更新時間:2025-05-08
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-08
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發送出去。
更新時間:2025-05-08
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-08
pcie 初始化完成后會進入l0狀態。異常狀態見pcie link 異常log。物理層link 不穩定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-08
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發明是人類歷史上的大創舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發展則更是狂飆猛進。天的大規模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業內從業者來說遇到的挑戰和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-05-08
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-08
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-08
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-08
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-05-08
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-05-08
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-05-08
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-05-08
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-05-08
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-08
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-05-08
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-05-08
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動
更新時間:2025-05-08
mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-08
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-05-08
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-05-08
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-05-08
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-05-08
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-05-08
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-05-08
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-05-08
商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機型：juki系列機型
更新時間:2025-05-08
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介：1、根據gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、a類試驗探棒（a類試驗探球）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介： 1、根據gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、d類試驗探棒（d類試驗針）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08
燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進口純鎳；結構和特性： 材料的晶粒應精細且有規則結構，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2025-05-08
ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、 產品概述：防噴水試驗裝置是依據gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關條款要求制作，用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試
更新時間:2025-05-08
12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介：1、根據din40050等相應條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08
深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介：1、根據gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指（19號試驗探棒）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08
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