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其他產(chǎn)品及廠家

復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-05-08
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-05-08
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-05-08
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-08
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-05-08
T-280S--TRACKING 體能測試設(shè)備 鴻泰盛 交互式
動態(tài)體能評估系統(tǒng)t280s是一款集動態(tài)體能評估、體適能評估、運(yùn)動數(shù)據(jù)統(tǒng)計、運(yùn)動健康分析、智能訓(xùn)練指導(dǎo)為一體的評估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過穿戴式傳感器進(jìn)行動作數(shù)據(jù)采集,對8個或以上特定動作的動態(tài)測試,采集身體運(yùn)動參數(shù),遠(yuǎn)程無線數(shù)據(jù)傳輸,與交互平臺配合分析人體的重心運(yùn)動軌跡及人體的運(yùn)動姿態(tài),自動進(jìn)行分析并生成測試報告和出具訓(xùn)練建議。
更新時間:2025-05-08
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊 同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術(shù),對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估,根據(jù)分析數(shù)據(jù),了解用戶的足部現(xiàn)狀,并作出針對性足墊解決方案。與此同時,系統(tǒng)采用的加熱定型技術(shù),該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單,效率很高,現(xiàn)場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊,用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。
更新時間:2025-05-08
體態(tài)評估儀 脊柱功能檢測儀器 鴻泰盛 foncti-630
foncti-630體態(tài)評估系統(tǒng),是一款集合3d體態(tài)檢測,步態(tài)檢測于一體的智能體測系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠(yuǎn)紅外與結(jié)構(gòu)光技術(shù),模擬人體骨骼位置結(jié)構(gòu),分析肌肉功能狀態(tài),診斷動態(tài)步態(tài)異常,預(yù)測各項健康風(fēng)險,給予客戶健康評分并為客戶定制完整運(yùn)動方案。
更新時間:2025-05-08
兒童人體成分分析儀 CareBo-810 折疊機(jī)身
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析,監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化,回歸數(shù)據(jù)本身,呈現(xiàn)身體的真實數(shù)據(jù),通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等,向用戶提供更多豐富的服務(wù)項目。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試系統(tǒng) 便捷式 AFA-50足底壓力測量儀
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器(傳感器數(shù)量2304個),以生物力學(xué)為基礎(chǔ),準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù),能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估,對足部壓力,足部畸形問題進(jìn)行有效分析,提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3D設(shè)備 C1
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設(shè)備 c1同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術(shù),對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估,根據(jù)分析數(shù)據(jù),了解用戶的足部現(xiàn)狀,并作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-05-08
身體成分分析儀器 體測儀 人體成分檢測儀 鴻泰盛
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析,監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化,回歸數(shù)據(jù)本身,呈現(xiàn)身體的真實數(shù)據(jù),通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等,向用戶提供更多豐富的服務(wù)項目。
更新時間:2025-05-08
三維步態(tài)分析儀 足底壓力測試板 步態(tài)分析儀 鴻泰盛
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器(傳感器數(shù)量2304個),以生物力學(xué)為基礎(chǔ),準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù),能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估,對足部壓力,足部畸形問題進(jìn)行有效分析,提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
穿戴式步態(tài)分析儀 足部壓力檢測儀 鴻泰盛便捷式
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器(傳感器數(shù)量2304個),以生物力學(xué)為基礎(chǔ),準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù),能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估,對足部壓力,足部畸形問題進(jìn)行有效分析,提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
3D矯正鞋墊機(jī) 足型檢測儀 鞋墊定制機(jī) 全自動鞋墊機(jī) S1
全自動鞋墊機(jī)s1足墊定制系統(tǒng)同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術(shù),對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估,作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-05-08
全自動鞋墊機(jī) 足型檢測儀 鞋墊定制3D設(shè)備 鞋機(jī) S1
boonfeet s1足墊定制系統(tǒng)同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術(shù),對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估,根據(jù)分析數(shù)據(jù),了解用戶的足部現(xiàn)狀,并作出針對性足墊解決方案。與此同時,系統(tǒng)采用獨(dú)特的加熱定型技術(shù),該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單,效率很高,現(xiàn)場5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊,用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。
更新時間:2025-05-08
足底壓力分析儀 足底壓力測量儀  鴻泰盛 三維便攜
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器(傳感器數(shù)量2304個),以生物力學(xué)為基礎(chǔ),準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù),能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估,對足部壓力,足部畸形問題進(jìn)行有效分析,提供針對性解決方案。可適用于疼痛科、康復(fù)科、神經(jīng)內(nèi)科、足踝外科、骨科等科室,廣泛應(yīng)用于體檢康復(fù)、運(yùn)動康復(fù)、教學(xué)科研等域。
更新時間:2025-05-08
足底壓力測試儀 足底壓力分析儀 鴻泰盛 三維便攜
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器(傳感器數(shù)量2304個),以生物力學(xué)為基礎(chǔ),準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù),能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估,對足部壓力,足部畸形問題進(jìn)行有效分析,提供針對性解決方案。
更新時間:2025-05-08
步態(tài)分析儀
●僅厚3mm、gai+view 超薄的測試板!●足底壓力的大小與分布能反映人體腿,足結(jié)構(gòu)。功能及整個身體姿勢控制等信息,測試。分析足底應(yīng)力,對臨床診斷。疾患程度測定和術(shù)后療效評價均具有重要意義。●gaitview特點●很高的便攜性僅有3mm厚度,是很薄的足壓測試儀,同時其尺寸僅為50*70cm,重量僅為4.8kg,具有很高的便攜性。
更新時間:2025-05-08
人體成分分析儀
便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動安全、方便02人體工程學(xué)設(shè)計03.超輕型,約10kg04.a4打印機(jī)或熱敏打印(選配)05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會操作07.語音向?qū)Чδ?8.u盤數(shù)據(jù)備份
更新時間:2025-05-08
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-05-08
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-08
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-08
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-08
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-08
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-05-08
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-05-08
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-05-08
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-05-08
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-05-08
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-05-08
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-05-08
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-05-08
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-05-08
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-08
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-05-08
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-05-08
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-05-08
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-05-08
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-08
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2025-05-08
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-05-08
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-05-08
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-05-08
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時間:2025-05-08
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-05-08
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時間:2025-05-08
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
更新時間:2025-05-08
IP10試驗探棒IP1X試驗探球試具A鋼球探棒
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介:1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗探棒(a類試驗探球)是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08
配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗探針I(yè)P4X試驗探棒
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介: 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗探棒(d類試驗針)是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗的必備器具。
更新時間:2025-05-08

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