XQ15-GⅡ數(shù)字式激光平面干涉儀
SIS 2000自動白光干涉儀
| 品牌： | SNU | 型號： | SIS 2000 | 操作方式： | 自動 |
| 功能： | 檢測、觀察、分析 | 精度 ： | 1nm | ||
| 其它型號： | SIS 1200 | ||||
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
| | | |
WLIRing德國BMT WLIRing 白光干涉儀
| 德國BMT WLIRing 干涉儀 |
| |
| 德國BMT WLIRing 干涉儀 該測量系統(tǒng)用于快速準確測量圓柱形工件的表面形貌，計算粗糙度參數(shù)，微型結(jié)構(gòu)，及內(nèi)外部表面特征。 特點 l 對內(nèi)外層都可進行測量 l 光滑粗糙表面都可進行測量 l 測量結(jié)果不受工件的顏色和材料影響 l 數(shù)秒內(nèi)進行快速測量 l 用于在線測量的OEM測量頭 l 光源：LED l 垂直分辨率（nm）：<1 l 水平分辨率（μm）：≥1 l 焦距，大約（mm）：1 l 測量區(qū)域的尺寸：由物體決定 l 圖像尺寸（Pixel）：1000×1000 移動平臺 l Z軸（mm）：10～50 l 步進速度（μm/min）：1 |
sis智泰白光干涉儀
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
PG15-J激光平面干涉儀
SJ6000激光干涉儀
SJ6000采用高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高精度環(huán)境補償模塊、 幾何參量干涉光路設(shè)計、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，實現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測量。通過激光熱穩(wěn)頻控制技術(shù)，實現(xiàn)快速(5~10 分鐘)、高精度(0.05ppm)、抗干擾能力強、長期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出，采用不同的光學(xué)鏡組與激光配合，得到不同的干涉信號，然后通過高精度激光 干涉信號處理系統(tǒng)得到干涉數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)通過計算機進行顯示和動態(tài)分析。
使用時，操作者先按照設(shè)計的幾何光路安裝相配合的鏡組，幾何光路是以邁克爾遜型激光干涉儀原理為基礎(chǔ)設(shè)計的，下圖是邁克爾遜干涉儀的基本原理圖：
邁克爾遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應(yīng)的平面鏡反射回來，這兩束光從而能 夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)整干涉臂長度以及改變介質(zhì)的折射率來實現(xiàn)，從而形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差點的軌跡，因此，要 分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣，必求出相干光的光程差位置分布函數(shù)。
搭建好幾何光路后，在檢定軟件上設(shè)定測量的開始、結(jié)束位置，點擊“開始”按鈕，軟件界面會實時顯示測量所得動態(tài)數(shù)據(jù)；掃描結(jié)束后，操作者可通過對測量所得 數(shù)據(jù)曲線進行分析，得到如長度、角度、直線度、垂直度、平面度等參數(shù)。并根據(jù)系統(tǒng)內(nèi)置的檢測標準對被測件的各項參數(shù)進行合格判定，檢測結(jié)束后自動生成檢定 結(jié)果。
二、特點優(yōu)勢三、技術(shù)參數(shù)| 1 | 線性測長距離 | 40m |
| 2 | 線性測長精度 | ±（0.02+0.5L）um |
| 3 | 激光穩(wěn)頻精度 | 0.05ppm |
| 4 | 分辨率 | 0.001um |
| 5 | *大測量速度 | 4.0m/S |
| 6 | 動態(tài)采集頻率 | 50KHZ |
| 7 | 預(yù)熱時間 | 5~10分鐘 |
| 8 | 環(huán)境補償精度 | 空氣壓力：±1.0mBar， 空氣濕度：±6%， 材料溫度：±0.1℃ |
| 9 | 基本重量(含三腳架，包裝) | 15Kg |
F-DGS1160多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）
實驗內(nèi)容：
1、調(diào)整兩個反射鏡之間的相對位置，使之平行，形成F-P干涉儀。
2、觀察激光在F-P干涉儀中的多光束干涉現(xiàn)象，了解F-P干涉儀的工作原理和理論。
3、改變腔長，測量計算干涉儀的特征參數(shù)。用壓電陶瓷微調(diào)兩個反射鏡的間距，觀察其對透射光波長的掃描特性，了解F-P掃描干涉儀的工作原理。觀察激光器的頻率特性，測量激光器的特征參數(shù)。
供應(yīng)曲率半徑測量干涉儀︱干涉儀
| 光學(xué)精密機械 >> 干涉儀 >> 曲率半徑測量干涉儀︱干涉儀 | ||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||
| 產(chǎn) 品 說 明 | ||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||
| 產(chǎn)品 >> 光學(xué)精密機械 >> 干涉儀 | 共有 18 個產(chǎn)品 | |
Agilent 5529A雙頻激光干涉儀
產(chǎn)品簡介 |
隨著精密機械零件的要求在繼續(xù)增加，Agilent 5529A動態(tài)校準系統(tǒng)能幫助機床用戶獲得成功。Agilent 5529A為機床制造商和用戶提供測量機床定位和精度的基本部件；用經(jīng)補償?shù)臄?shù)據(jù)校準機床的定位誤差；診斷幾何形狀問題；以及符合7種國際標準的機床性能文檔。 您可用Agilent 5529A選擇全套校準部件，包括激光源、校準器和材料補償板、材料和空氣傳感器、光纖套件、電纜和附件。您也可選擇3種預(yù)配置系統(tǒng)（不包括光纖）。 Agilent 5529B基本系統(tǒng)：包括激光源、校準器和材料補償板、材料和空氣傳感器、電纜和附件。 Agilent 5529V Vectra系統(tǒng)：包括校準器和材料補償板、HP Vectra PC和super VGA顯示。 Agilent 5529U升級系統(tǒng)：包括校準器和材料補償板、適配器電纜，您能從Agilent 5528A升級到Agilent 5529A。 |
特性： |
l 專利Agilent激光管設(shè)計，性MTBF大于 50,000 小時 l 用戶友好的Windows軟件 l 文檔使用8種語言：英語、法語、德語、意大利語、日語、西班牙語，以及簡體和繁體漢語 l 符合7種國際標準： NMTBA, BDI/DGQ 3441, ANSI B5.54, BSI 3800, ESO 230-2, JIS, 和 GB 10931-89 l 在線幫助 如果需要詳細的資料請發(fā)Email：xie_feng79@163.com |