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EDX860D貴金屬檢測儀器

Ｘ熒光光譜儀EDX860D

型號：EDX860D

產品說明、技術參數及配置

本儀器專門針對貴金屬測試，可測試環形樣品內壁及普通平面測試，具有以下特點：體積小巧，外型莊重大方，手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試，樣品固定方便快捷，可方便更換準直器，準直器直徑為1.5mm，可測試較小區域，下照式，大窗口正比計數盒計數率滿足分析需要，寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試，攝像頭激光精確定位實現可視化定位，良好的射線屏蔽確保操作人員。

應用領域首飾加工廠金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠質量檢驗部門分析測試中心典當行

XRF檢測法與傳統檢測法比較

檢測法	結果
試金石法	主觀性強，不科學，性差
比重法	參照物的純度難以確定
化學法	成本高，操作復雜，對樣品有所損害
XRF分析法	快速、無損、科學、穩定

核心技術

1.大功率光管；2. 超大窗口面積正比計數盒； 3. 外型小巧，莊重大方； 4. 寬闊樣品腔，方便操作及測試較大樣品； 5. 手動升降平臺確保測試不同大小環狀樣品； 6．小準直器，利于測試樣品小區域； 7. 攝像頭與激光定位，可視地定位到被測點，測試時激光點自動關閉，利于拍攝清晰照片； 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。

儀器技術指標：

分析含量一般為1ppm到99.9％；任意多個可選擇的分析和識別模型；相互獨立的基體效應校正模型；多變量非線性回歸程序；多次測量重復性可達0.1％；工作穩定性為0.1％。電源：交流220V±5V；測量時間：60-200S 管壓：5-50KV 管流：50-1000μA 溫度適應范圍：15℃-30℃

標準配置：

正比計數盒；50W X光管；高壓電源 50kV@1mA；攝像頭激光定位裝置；高靈敏度信號檢測電子電路；手動升降平臺；樣品夾；橡皮泥；準直器直徑為1.5 mm。

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EDX860D貴金屬檢測儀器