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其他產(chǎn)品及廠家

D-LAB VIDEO行為觀察分析系統(tǒng)
d-lab video為您提供靈活的視頻記錄和編碼分析解決方案,允許您進(jìn)行多路視頻記錄,完全不限制視頻通道數(shù)量。您可以使用帶云臺(tái)的和光學(xué)變焦的攝像頭進(jìn)行視頻記錄,還可以使用更加便攜的usb網(wǎng)絡(luò)攝像頭,方便外場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-05-09
NE 無線腦電系統(tǒng)
產(chǎn)品描述:檢測(cè)結(jié)果可信賴精確檢測(cè)eeg腦電、eog眼電和emg皮電信號(hào)的無線傳輸腦電系統(tǒng),無需連接線纜簡(jiǎn)單獲取高品質(zhì)的eeg信號(hào)一分鐘就可以開始檢測(cè)讓您的數(shù)據(jù)管理和可視化變得更簡(jiǎn)單無論在什么地方什么時(shí)間,您都可以進(jìn)行檢測(cè)允許干電極和濕電極靈活的二次開發(fā)工具輸出全部原始數(shù)據(jù)全套api支持您建立自己的應(yīng)用保
更新時(shí)間:2025-05-09
bel 便攜式腦電儀
bel one腦電系統(tǒng)是可以用于高清e(cuò)eg和tes研究的新系列腦電系統(tǒng),將以可承受的成本帶來先進(jìn)的技術(shù),以改變空間和時(shí)間分辨率的局限,從而改變?nèi)祟惿窠?jīng)生理學(xué)域的研究現(xiàn)狀。此系統(tǒng)支持40、130和280通道,bel one腦電系統(tǒng)將提供有效的分辨率和可重復(fù)性。
更新時(shí)間:2025-05-09
業(yè)運(yùn)動(dòng)測(cè)試跑臺(tái)
h/p/cosmos公司創(chuàng)建于1988年,在跑步機(jī)、運(yùn)動(dòng)訓(xùn)練及科研方面是先的家。其產(chǎn)品的耐用性、功能性、精確性和安全性受到健身者、運(yùn)動(dòng)員的信賴。 跑臺(tái)選用德國(guó)西門子高端電動(dòng)機(jī),十年保修,配件一年保修,多種加速度調(diào)節(jié)模式,適應(yīng)不同域的研究需要。
更新時(shí)間:2025-05-09
輪椅壓力監(jiān)測(cè)
該系統(tǒng)的用戶友好型軟件僅需少的培訓(xùn),即可提供簡(jiǎn)單易讀的視覺結(jié)果和統(tǒng)計(jì)信息。先進(jìn)的工具包括解剖標(biāo)記、對(duì)稱性和 3d 視圖。臨床醫(yī)生可以為每個(gè)客戶設(shè)置文件,保存靜止圖像或壓力圖像視頻,然后通過電子郵件共享它們。可以直接在軟件中生成報(bào)告。
更新時(shí)間:2025-05-09
桌面式眼動(dòng)追蹤系統(tǒng)
系統(tǒng)采用先進(jìn)的眼動(dòng)追蹤算法,較為精密的硬件設(shè)計(jì)和較高質(zhì)量元器件,能夠確保數(shù)據(jù)的質(zhì)量和可重現(xiàn)性。這套眼動(dòng)追蹤系統(tǒng)的準(zhǔn)確度和精確度比較高,追蹤穩(wěn)定性較強(qiáng),實(shí)現(xiàn)了對(duì)各類被試群體在真實(shí)研究環(huán)境中的廣泛兼容性。
更新時(shí)間:2025-05-09
出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
更新時(shí)間:2025-05-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-05-09
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-05-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-05-09
ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-05-09
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
更新時(shí)間:2025-05-09
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
更新時(shí)間:2025-05-09
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-05-09
PSZRC-C三通道變壓器直流電阻測(cè)試儀
具有性能穩(wěn)定,測(cè)量迅速、體積小巧、使用方便、測(cè)量精度高,數(shù)據(jù)重復(fù)性好等特點(diǎn)。10a,20a三通道直流電阻測(cè)試儀是測(cè)量變壓器繞組以及大功率電感設(shè)備直流電阻的理想設(shè)備。三相測(cè)量適用于yn聯(lián)接的繞組,對(duì)于yn聯(lián)接的繞組由于聯(lián)接銅排電阻的影響,三相和單相測(cè)量結(jié)果會(huì)有所差異,建議使用單相測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-05-09
PSSLQ載流機(jī)
產(chǎn)品視產(chǎn)品體積、重量采用分體/一體式結(jié)構(gòu),具有輸出電流無極調(diào)整,電流上升平衡、負(fù)荷變化范圍大、工作可靠、操作簡(jiǎn)便、安全等特點(diǎn)。是工礦企業(yè)進(jìn)行升流或溫升試驗(yàn)較理想的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-05-09
PSFDB高壓放電棒
psfdb伸縮型高壓放電棒便于攜帶,方便、靈活,具有體積小、重量輕、安全可靠,是高電壓工作人員不可缺少的安全工具。
更新時(shí)間:2025-05-09
PSFRC交直流分壓器
電容器能有效地防止電阻表面泄漏,克服了對(duì)地的雜散電容的影響,從而提高了阻值,降低了直流測(cè)試電流,且線性好,該測(cè)量?jī)x裝在一根絕緣套管內(nèi),且分壓比穩(wěn)定,體積小、重量輕的特點(diǎn),便于試驗(yàn)人員的攜帶到現(xiàn)場(chǎng)使用可以代替靜電電壓表,是發(fā)電廠,變電站以及輸變電設(shè)備所進(jìn)行試驗(yàn)電壓測(cè)量的必備測(cè)量設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-05-09
高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電
更新時(shí)間:2025-05-09
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超g
更新時(shí)間:2025-05-09
耐漏電起痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-05-09
漏電起痕指數(shù)CTI測(cè)試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-05-09
高壓漏電檢測(cè)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-05-09
耐電痕試驗(yàn)儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-05-09
日本強(qiáng)力Kanetec高斯計(jì)TM-801EXP
日本強(qiáng)力kanetec高斯計(jì)tm-801exp產(chǎn)品說明:tm-701的容易使用性能沒有改變,但是實(shí)現(xiàn)了性能的大幅度提高!輕便型的新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量器
更新時(shí)間:2025-05-09
GSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進(jìn)口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡(jiǎn)單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場(chǎng)更換,功能強(qiáng)大,可以測(cè)量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流,無跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時(shí)間:2025-05-09
金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測(cè)量?jī)x表品牌:yaos堯順型號(hào):dx200ghd測(cè)量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測(cè)試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時(shí)間:2025-05-09
界面儀(智能化自校正)
北京正工電子科技有限責(zé)任公司是業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲(chǔ)罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測(cè)量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠(yuǎn)傳設(shè)備的研制、開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術(shù)力量,本著嚴(yán)謹(jǐn)敬業(yè)、勤奮務(wù)實(shí)的工作作風(fēng),精心打造出一系列高精度、高性能、高質(zhì)量的物位、液位測(cè)量產(chǎn)品.
更新時(shí)間:2025-05-09
界面計(jì)(智能化自校正)
服務(wù)于油田大罐界面液位測(cè)量!
更新時(shí)間:2025-05-09
智能型焦油界面計(jì)
企業(yè)簡(jiǎn)介:北京正工電子科技有限責(zé)任公司是專業(yè)從事油田石化行業(yè)的原油儲(chǔ)罐、分離罐、沉降罐、污水罐的油水界面、雙液位、物位測(cè)量智能化儀器儀表,油水含量分析儀表在線遠(yuǎn)傳設(shè)備的研制、開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司多年來依托自己雄厚的技術(shù)力量,本著嚴(yán)謹(jǐn)敬業(yè)、勤奮務(wù)實(shí)的工作作風(fēng),精心打造出一系列高精度、高性能、高質(zhì)量的物位、液位測(cè)量產(chǎn)品.口號(hào):北京正工電子科技-油水界面測(cè)量專家!
更新時(shí)間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測(cè)試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-05-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
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pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào),其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路,另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
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Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號(hào)幅度越來越低,對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
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Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求,個(gè)是type00h配置請(qǐng)求,另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
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Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
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